Publicação
Metodologia para prever o envelhecimento de circuitos digitais
| dc.contributor.advisor | Semião, Jorge Filipe Leal Costa | |
| dc.contributor.author | Pachito, Jakson dos Santos | |
| dc.date.accessioned | 2013-12-16T17:30:31Z | |
| dc.date.available | 2013-12-16T17:30:31Z | |
| dc.date.issued | 2012 | |
| dc.description | Dissertação de mest., Engenharia Eléctrica e Electrónica (Tecnologias de Informação e Telecomunicações), Instituto Superior de Engenharia, Univ. do Algarve, 2012 | por |
| dc.description.abstract | Com a constante miniaturização da tecnologia de circuitos integrados CMOS, diversos problemas de fiabilidade e performance estão a tornar-se críticos à medida que a escala continua a ser reduzida. Efeitos a longo prazo, como o NBTI, TDDB, HCI, MS, etc, degradam os parâmetros físicos dos transístores CMOS e com consequências nas propriedades eléctricas dos semicondutores. O fenómeno NBTI é considerado o efeito dominante no processo de degradação por envelhecimento dos CMOS e influencia a operação dos transístores PMOS. Os efeitos degradantes do NBTI são manifestados na degradação da corrente de dreno, nas capacidades, na transcondutância e na tensão limiar de condução (Vth) dos transístores PMOS, mas pode ser representada simplesmente como um incremento no |Vth| ao longo do tempo. Esta degradação é chamada de envelhecimento e estes efeitos cumulativos têm um grande impacto na performance do circuito, especialmente se ocorrerem outras variações paramétricas, como as variações de processo, tensão de alimentação e temperatura. O trabalho apresentado nesta dissertação tem por objectivo desenvolver uma metodologia para prever a degradação na performance dos circuitos digitais CMOS na presença de efeitos de envelhecimento por NBTI. Uma biblioteca genérica SPICE de CMOS foi também definida de forma a usar vários modelos preditivos de tecnologias (PTM). A previsão do envelhecimento é baseada em cálculos das probabilidades dos transístores PMOS terem uma polarização negativa em VGS, na modelação das correspondentes variações em Vth para cada transístor e nas simulações SPICE para medir a degradação na performance. A automatização da metodologia é materializada numa nova ferramenta de software chamada AgingCalc, desenvolvida no âmbito desta tese de mestrado. A metodologia de previsão de envelhecimento proposta é demonstrada através de simulações em circuitos de referência em tecnologias de 130nm a 16nm, usando modelos PTM. | por |
| dc.identifier.tid | 202209520 | |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/10400.1/3250 | |
| dc.language.iso | por | por |
| dc.peerreviewed | yes | por |
| dc.subject | Circuitos integrados | por |
| dc.subject | Previsão de envelhecimento | por |
| dc.title | Metodologia para prever o envelhecimento de circuitos digitais | por |
| dc.title.alternative | Aging prediction methodology for digital circuits | |
| dc.type | master thesis | |
| dspace.entity.type | Publication | |
| rcaap.rights | openAccess | por |
| rcaap.type | masterThesis | por |
| thesis.degree.grantor | Universidade do Algarve. Instituto Superior de Engenharia | por |
| thesis.degree.level | Mestre | por |
| thesis.degree.name | Mestrado em Engenharia Eléctrica e Electrónica. Tecnologias de Informação e Telecomunicações | por |